Tests et analyses des caractéristiques CV des dispositifs MOSFET
Les capacités parasites font généralement référence aux caractéristiques de capacité des inductances, des résistances, des connecteurs de puces et autres composants dans des conditions de haute fréquence.
Aux hautes fréquences, les capacités équivalentes dues aux résistances, condensateurs, inductances, diodes, transistors et surtout MOSFET peuvent augmenter considérablement et ne doivent pas être négligées.
Les capacités parasites d'un MOSFET sont des paramètres dynamiques qui influencent directement le comportement de commutation du composant. Parmi les paramètres parasites importants des semi-conducteurs de puissance, on peut citer :
- Capacité d'entrée du CISS
- Capacité de production de Coss
- Capacité de rétroalimentation CRSS
- résistance de remplacement série Rg Gate
Ces paramètres doivent être mesurés et analysés avec précision, tant au cours de la recherche et du développement que lors de la fabrication .
Détails de la solution
Exigences relatives aux tests :
Capacité d'entrée CISS
En court-circuitant le drain et la source, on mesure la capacité entre la grille et la source à l'aide d'un signal alternatif. Cette valeur correspond à la capacité d'entrée.
Coss – Capacité de production
En court-circuitant la grille et la source, la capacité entre le drain et la source est mesurée à l'aide d'un signal alternatif. Cette valeur correspond à la capacité de sortie.
CRSS – Capacité de transmission de retour
Avec une source mise à la terre, on mesure la capacité entre le drain et la grille. Cette valeur correspond à la capacité de transmission de retour.
Rg – Résistance de remplacement série Gate
Mesure de la résistance équivalente série entre la grille et la source.
Les solutions actuellement disponibles sur le marché pour les tests de caractéristiques CV des semi-conducteurs se composent généralement de plusieurs éléments, notamment :
- au moins un pont de mesure
- une source de tension
- un dispositif de mesure de polarisation CC
- un système de commutation matricielle
- un PC de contrôle
- logiciel de contrôle et d'analyse approprié
La mise en place et la mise en service de tels systèmes sont très complexes. De plus, la stabilité des tests est souvent limitée.
L' analyseur de caractéristiques CV pour semi-conducteurs de la série TH510 a été spécialement développé par Tonghui Electronics pour le développement et la production de matériaux et de composants semi-conducteurs.
L'appareil présente une conception intégrée et peut afficher simultanément quatre paramètres. Cela permet à un seul appareil de mesure de :
- Tri rapide et tests automatisés sur les lignes de production
- processus de test intégrés
- Développement du laboratoire et analyse détaillée
La série TH510 intègre une alimentation haute tension de 1 500 V offrant une grande précision de mesure. De plus, le système peut être étendu jusqu’à 6 canaux , ce qui est particulièrement important pour les exigences de test modulaire de l’ industrie des IGBT .
Liste des instruments
- TH511